Los profesores extranjeros participantes en el curso, Anouk Galtayries y Frédéric Wiame, pertenecen al grupo de "Physico-Chimie des surfaces", dentro del "Institut de Recherche de Chimie Paris" de la Ecole Nationale Supérieure de Chimie de Paris. Ambos tienen una experiencia de más de 25 años en el estudio y caracterización de superficies mediante diferentes técnicas expermientales, como las que se abordan en este curso. Además la Dra. Galtayries es actualmente profesora externa del programa de Doctorado en Nanociencia y Tecnología de Materiales, presidenta de la SVF (Société Française du Vide), y presidenta electa de la IUVSTA (International Union for Vacuum Science, Technique and Applications). La profesora Ginesa Blanco es actualmente la Responsable científica de la Unidad de Espectroscopía XPS de los SC-CyT de la UCA, acreditando más de 20 años de experiencia en la técnica de XPS

Proporcionar a los participantes un conocimiento básico del estudio de superficies, así como la aplicación de algunas de las técnicas específicas de estudio de superficies más empleadas.

• Introduction to surfaces
• Surface characterization by XPS
• Training in CasaXPS software
• Near Ambient Pressure XPS: Studying live chemical reactions
• Surface characterization by SIMS
• Surface characterization by AFM/STM

• Lecciones Magistrales de los Profesores del curso, con apoyo de Medios Audiovisuales (Presencial, a impartir entre los 3 profesores del curso)
• Contenido práctico sobre análisis cuantitativo por XPS (Presencial)
• Trabajo particular del alumno sobre actividades propuestas en el curso (3h,  NO Presencial) 

• Asistencia al curso (70%)
• Participación activa durante las sesiones de Discusión y de Paneles (10%)
• Realización de actividades propuestas en el curso (20%) 

Swift Ion Beam Analysis in Nanosciences. D. Jalabert, I. Vickridge, A. Chabli. Nanoscience and Nanotechnology Series (Ed.R. Baptist). John Wiley & Sons, 2017. ISBN: 978-1-84821-577-1.

Secondary Ion Mass Spectrometry. A. Benninghoven, Y. Nihei, R. Shimizu. John Wiley & Sons Canada, Ltd., 1994. ISBN: 978-0471942184.

Surface Analysis by Auger and X-Ray Photoelectron Spectroscopy. D. Briggs, J.T. Grant (eds.). IM Publications, 2003. ISBN: 1-901019-047.

Introduction to Surface Chemistry and Catalysis, 2nd Edition. G.A. Somorjai, Y. Li. John Wiley & Sons, 2010. ISBN: 978-0-470-50823-7.

Surface Analysis with STM and AFM: Experimental and Theoretical Aspects of Image Analysis. S.N. Magonov, M.H. Whangbo.  Wiley-VCH, 1996. ISBN: 978-3527293131.

Orden de Prioridad:

1. Programa de Doctorado en Nanociencia y Nanotecnologías
2. Otros Programas de Doctorado en Ciencias o Ingenierías
3. Alumnos de Master en Ciencias o en Ingenierías