Plazas ofertadas por grupo: 8
Duración: 24 horas (18 h. presenciales) Modalidad: Presencial Idioma: Español/Inglés
Lugar de impartición: Facultad de Ciencias
Campus de Puerto Real Precio de matrícula de este curso: 13.13 euros
Destinatarios
Doctorandos de los Programas de Doctorado en Nanociencias y Tecnologías de Materiales y en Fabricación, Materiales e Ingeniería Ambiental
Descripción general
Fundamentos de la Microscopía de Fuerza Atómica (AFM).
Objetivos
Al finalizar el Taller de AFM, el estudiante debe conocer los fundamentos de la Microscopía de Fuerza Atómica (AFM), aprendiendo el manejo básico (bajo supervisión de alguno de sus responsables) del microscopio AFM Bruker modelo Nanoscope Multimode IIIa, y conociendo sus modos de operación fundamentales, así como el uso del software (libre) necesario para el procesamiento de las imágenes obtenidas con él.
Contenidos
Teóricos:
Conceptos generales sobre la técnica AFM. Partes del microscopio AFM.
Modos de operación: básicos (contacto y tapping) y avanzados (MFM, c-AFM y SThM)
Software para el tratamiento de imágenes AFM y artefactos típicos
Prácticos:
Puesta en marcha de un experimento AFM.
Realización de experimentos en modo contacto, tapping, magnético (MFM), conductivo (c-AFM) y térmico (SThM), con muestras patrón.
Prácticas de ordenador:
Tratamiento de imágenes AFM con el software Gwyddion.
Prácticas de laboratorio:
Obtención de imágenes AFM de muestras convencionales.
Competencias básicas y capacidades
Una vez montadas una muestra y la sonda apropiada en el Microscopio de Fuerza Atómica (AFM), ser capaz de realizar un experimento mediante esta técnica, obteniendo una imagen topográfica de la superficie de la muestra. Empleando el programa de software libre Gwyddion, ser capaz de corregir los posibles artefactos que aparezcan en la imagen obtenida y determinar a partir de ella algunas características superficiales básicas (rugosidad, tamaño y distribución de rasgos superficiales, etc.) según convenga.
Metodología
Cada sesión teórica de 1-2 h irá seguida de un seminario práctico de 2-3 h en el laboratorio AFM del IMEYMAT.
Al finalizar esta primera parte del aprendizaje, los estudiantes realizarán dos prácticas, una de ordenador y otra de laboratorio, de las que se derivarán dos entregables (trabajos académicos dirigidos) obligatorios.
Sistema de evaluación
Asistencia a clase (mínimo 80%)
Asistencia obligatoria a las prácticas de ordenador y de laboratorio
Entrega de trabajos académicos dirigidos
Bibliografía
P. Eaton y P. West, "Atomic Force Microscopy", Oxford University Press (2010).
P. Klapetek, D. Necas y C. Anderson, "Gwyddion Manual", http://gwyddion.net/download/user-guide/gwyddion-user-guide-en.pdf (página visitada el 2/10/2018).
Programación (21-01-2019 a 08-02-2019)
21-01-2019
10:00-11:00
Manuel Domínguez de la Vega
Manuel Domínguez de la Vega
Introducción general a la técnica AFM
11:30-13:30
Laboratorio AFM del IMEYMAT
Hicham Bakkali
Seminario práctico: Partes del AFM y puesta en marcha de un experimento
22-01-2019
10:00-11:00
Facultad de Ciencias
Manuel Domínguez de la Vega / Hicham Bakkali
AFM básico: Modos contacto y tapping
11:30-13:30
Laboratorio AFM del IMEYMAT
Hicham Bakkali / Manuel Domínguez de la Vega
Seminario práctico: Obtención de la imagen AFM de una muestra patrón en modo contacto y en modo tapping
23-01-2019
10:00-11:00
Facultad de Ciencias
Manuel Domínguez de la Vega / Hicham Bakkali
AFM avanzado: modos magnético (MFM), conductivo (c-AFM) y térmico (SThM)
11:00-14:00
Laboratorio AFM del IMEYMAT
Hicham Bakkali / Manuel Domínguez de la Vega
Seminario práctico: Obtención de imágenes de AFM de muestras patrón en modos magnético (MFM), conductivo (c-AFM) y térmico (SThM)
24-01-2019
10:00-12:00
Facultad de Ciencias
Manuel Domínguez de la Vega / Hicham Bakkali
Artefactos típicos y software de tratamiento de imágenes AFM
25-01-2019
10:00-13:00
Facultad de Ciencias
Hicham Bakkali / Manuel Domínguez de la Vega
Práctica de ordenador: Tratamiento de imágenes AFM con el software Gwyddion
29-01-2019 a 01-02-2019
10:00-13:00
Laboratorio AFM del IMEYMAT
Hicham Bakkali / Manuel Domínguez de la Vega
Práctica de Laboratorio: Obtención de imágenes AFM de muestras convencionales.
Realización en grupo con un máximo de 3 personas/grupo.
El plazo de entrega de esta actividad será de una semana (8/2/2019)
Información adicional
Otros profesores: Dr. Hicham Bakkali (Técnico responsable del Laboratorio AFM del IMEYMAT).