Actividades formativas de Doctorado de la Universidad de Cádiz
 
8209B02_005

Taller práctico de AFM (AFM Training Workshop)

Organiza: Comisión Académica del Programa de Doctorado en Nanociencia y Tecnologías de Materiales

Inscripción en: https://posgrado.uca.es/doctor
(en este momento no hay plazo abierto para inscripción en este curso)

Coordinación:
Dr. D. MANUEL DOMINGUEZ DE LA VEGA
Plazas ofertadas por grupo: 8
Duración: 24 horas (18 h. presenciales)
Modalidad: Presencial    Idioma: Español/Inglés

Lugar de impartición: Facultad de Ciencias
Campus de Puerto Real
Precio de matrícula de este curso: 13.13 euros


Destinatarios
Doctorandos de los Programas de Doctorado en Nanociencias y Tecnologías de Materiales y en Fabricación, Materiales e Ingeniería Ambiental


Descripción general

Fundamentos de la Microscopía de Fuerza Atómica (AFM).



Objetivos

Al finalizar el Taller de AFM, el estudiante debe conocer los fundamentos de la Microscopía de Fuerza Atómica (AFM), aprendiendo el manejo básico (bajo supervisión de alguno de sus responsables) del microscopio AFM Bruker modelo Nanoscope Multimode IIIa, y conociendo sus modos de operación fundamentales, así como el uso del software (libre) necesario para el procesamiento de las imágenes obtenidas con él.



Contenidos

Teóricos:

  • Conceptos generales sobre la técnica AFM. Partes del microscopio AFM.
  • Modos de operación: básicos (contacto y tapping) y avanzados (MFM, c-AFM y SThM)
  • Software para el tratamiento de imágenes AFM y artefactos típicos

Prácticos:

  • Puesta en marcha de un experimento AFM.
  • Realización de experimentos en modo contacto, tapping, magnético (MFM), conductivo (c-AFM) y térmico (SThM), con muestras patrón.

Prácticas de ordenador:

  • Tratamiento de imágenes AFM con el software Gwyddion.

Prácticas de laboratorio:

  • Obtención de imágenes AFM de muestras convencionales.

 



Competencias básicas y capacidades

Una vez montadas una muestra y la sonda apropiada en el Microscopio de Fuerza Atómica (AFM), ser capaz de realizar un experimento mediante esta técnica, obteniendo una imagen topográfica de la superficie de la muestra. Empleando el programa de software libre Gwyddion, ser capaz de corregir los posibles artefactos que aparezcan en la imagen obtenida y determinar a partir de ella algunas características superficiales básicas (rugosidad, tamaño y distribución de rasgos superficiales, etc.) según convenga.



Metodología

Cada sesión teórica de 1-2 h irá seguida de un seminario práctico de 2-3 h en el laboratorio AFM del IMEYMAT.

Al finalizar esta primera parte del aprendizaje, los estudiantes realizarán dos prácticas, una de ordenador y otra de laboratorio, de las que se derivarán dos entregables (trabajos académicos dirigidos) obligatorios.

 


Sistema de evaluación
  • Asistencia a clase (mínimo 80%)
  • Asistencia obligatoria a las prácticas de ordenador y de laboratorio
  • Entrega de trabajos académicos dirigidos
 


Bibliografía

P. Eaton y P. West, "Atomic Force Microscopy", Oxford University Press (2010).

P. Klapetek, D. Necas y C. Anderson, "Gwyddion Manual", http://gwyddion.net/download/user-guide/gwyddion-user-guide-en.pdf (página visitada el 2/10/2018).

 


Programación (21-01-2019 a 08-02-2019)
21-01-2019 10:00-11:00 Manuel Domínguez de la Vega

Manuel Domínguez de la Vega

Introducción general a la técnica AFM

11:30-13:30 Laboratorio AFM del IMEYMAT

Hicham Bakkali

Seminario práctico: Partes del AFM y puesta en marcha de un experimento

22-01-2019 10:00-11:00 Facultad de Ciencias

Manuel Domínguez de la Vega / Hicham Bakkali

AFM básico: Modos contacto y tapping

11:30-13:30 Laboratorio AFM del IMEYMAT

Hicham Bakkali / Manuel Domínguez de la Vega

Seminario práctico: Obtención de la imagen AFM de una muestra patrón en modo contacto y en modo tapping

23-01-2019 10:00-11:00 Facultad de Ciencias

Manuel Domínguez de la Vega / Hicham Bakkali

AFM avanzado: modos magnético (MFM), conductivo (c-AFM) y térmico (SThM)

11:00-14:00 Laboratorio AFM del IMEYMAT

Hicham Bakkali / Manuel Domínguez de la Vega

Seminario práctico: Obtención de imágenes de AFM de muestras patrón en modos magnético (MFM), conductivo (c-AFM) y térmico (SThM)

24-01-2019 10:00-12:00 Facultad de Ciencias

Manuel Domínguez de la Vega / Hicham Bakkali

Artefactos típicos y software de tratamiento de imágenes AFM

25-01-2019 10:00-13:00 Facultad de Ciencias

Hicham Bakkali / Manuel Domínguez de la Vega

Práctica de ordenador: Tratamiento de imágenes AFM con el software Gwyddion

29-01-2019 a 01-02-2019 10:00-13:00 Laboratorio AFM del IMEYMAT

Hicham Bakkali / Manuel Domínguez de la Vega

Práctica de Laboratorio: Obtención de imágenes AFM de muestras convencionales.

Realización en grupo con un máximo de 3 personas/grupo.

El plazo de entrega de esta actividad será de una semana (8/2/2019)



Información adicional

Otros profesores: Dr. Hicham Bakkali (Técnico responsable del Laboratorio AFM del IMEYMAT).